關(guān)于大型高空低氣壓的標準有哪些？

　　國際標準分類中，大型高空低氣壓涉及到電燈及有關(guān)裝置、環(huán)境試驗、光學設(shè)備、試驗條件和規(guī)程綜合、半導體分立器件、貨物的包裝和調(diào)運綜合、電工和電子試驗、光學和光學測量、熱力學和溫度測量、試驗、航空器和航天器綜合、電子電信設(shè)備用機電元件、造船和海上構(gòu)筑物綜合、橡膠和塑料制品、流體存儲裝置、電氣工程綜合、消防、防爆、電擊防護、閥門、航空航天制造用材料、電工器件、廚房設(shè)備、航空航天用電氣設(shè)備和系統(tǒng)、緊固件、機上設(shè)備和儀器、制冷技術(shù)、光纖通信、電子元器件綜合、采礦設(shè)備、水果、蔬菜及其制品、電學、磁學、電和磁的測量、輪胎。

　　在中國標準分類中，大型高空低氣壓涉及到電光源產(chǎn)品、、基礎(chǔ)標準和通用方法、光學儀器綜合、實驗室基礎(chǔ)設(shè)備、基礎(chǔ)標準與通用方法、半導體分立器件綜合、基礎(chǔ)標準與通用方法、包裝方法、標志、包裝、運輸、貯存綜合、環(huán)境條件與通用試驗方法、、艙面屬具、壓力容器、防火技術(shù)、火工產(chǎn)品、連接器、閥門、航空與航天用金屬鑄鍛材料、基礎(chǔ)標準與通用方法、電力半導體器件、部件、機械量儀表、自動秤重裝置與其他檢測儀表、家用電熱器具、電子元器件、航空器及其附件綜合、緊固件、制冷設(shè)備、光通信設(shè)備、電氣裝置用結(jié)構(gòu)件、運輸、吊裝與加注設(shè)備、地質(zhì)勘探設(shè)備綜合、電氣系統(tǒng)與設(shè)備、電子試驗用儀器設(shè)備、體外循環(huán)、人工臟器、假體裝置、混凝土、集料、灰漿、砂漿、航天器總體、輪胎、技術(shù)管理、學校專用設(shè)備。

　　國家質(zhì)檢總局，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　GB/T 19258.1-2022 殺菌用紫外輻射源 第1部分:低氣壓汞蒸氣放電燈

　　GB/T 5170.10-2017 環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第10部分:高低溫低氣壓試驗設(shè)備

　　GB/T 12085.5-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗

　　GB/T 11159-2010 低氣壓試驗箱技術(shù)條件

　　GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.溫度/低氣壓綜合試驗導則

　　GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗.Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合

　　GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗M:低氣壓

　　GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗

　　GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗

　　GB/T 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法.高低溫低氣壓試驗設(shè)備

　　GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合

　　GB/T 4937.2-2006 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第2部分:低氣壓

　　GB/T 10591-2006 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件

　　GB/T 10590-2006 高低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件

　　GB/T 2423.27-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗

　　GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備

　　GB/T 4857.13-2005 包裝 運輸包裝件基本試驗 第13部分;低氣壓試驗方法

　　GB/T 5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備

　　GB/T 2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗導則

　　GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法

　　GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗

　　GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗

　　GB/T 2424.15-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗導則

　　GB/T 4857.13-1992 包裝 運輸包裝件 低氣壓試驗方法

　　GB/T 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法

　　GB/T 12085.5-1989 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 綜合低溫、低氣壓

　　GB/T 11159-1989 低氣壓試驗箱技術(shù)條件

　　GB/T 10591-1989 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件

　　GB/T 10590-1989 低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件

　　GB/T 5170.17-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備

　　GB/T 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法

　　國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗

　　GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)綜合

　　，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　IRAM 11 511-1962 低氣壓液體所用的帶有檢查蓋的石棉水泥管

　　法國標準化協(xié)會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　NF C20-713-2021 環(huán)境試驗. 第2-13部分: 試驗方法. M試驗: 低氣壓

　　NF C93-400-14-5-2006 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第14-5部分:密封試驗.試驗14e:低氣壓下浸漬

　　NF C96-022-2-2002 半導體裝置.機械和氣候試驗方法.第2部分:低氣壓

　　NF L54-002-117-2002 航空航天系列.電氣及光學連接元件.試驗方法.第6314部分:光學元件.低氣壓下的浸漬

　　NF C93-400-11-2-2002 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第11-2部分:氣候試驗.試驗 11b:混合低溫/順序低溫、低氣壓和濕熱

　　NF C93-400-11-11-2002 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第11-11部分:氣候試驗.試驗 11k:低氣壓

　　NF C20-741-2000 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.Z/BM 試驗:干熱/低氣壓混合試驗

　　NF C20-740-2000 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.Z/AM 試驗:低溫/低氣壓混合試驗

　　NF C20-713-1999 環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.M 試驗:低氣壓

　　NF C20-403-2-1999 環(huán)境試驗.第3部分:背景信息.第2節(jié):組合溫度/低氣壓試驗

　　NF C20-739-1999 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.Z/AMD 試驗:組合式連續(xù)低溫、低氣壓和濕熱試驗

　　NF C93-902-29-1998 光纖互連裝置和無源元件.基本試驗和測量程序.第2-29部分:試驗.低氣壓

　　NF L54-002-030-1998 航空航天系列.電氣及光學連接元件.試驗方法.第311部分:低氣壓

　　NF C20-713-1987 氣侯的基本試驗和機械堅固耐用的試驗.試驗方法.m試驗.低氣壓

　　國際電工委員會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　IEC 60068-2-13:2021 環(huán)境測試 - 第2-13部分:測試 - 測試M:低氣壓

　　IEC 60068-2-39:2015 環(huán)境測試 - 第2-39部分:測試 - 測試和指導:組合溫度或溫度和濕度低氣壓試驗

　　IEC 60068-2-39-2015 環(huán)境測試 - 第2-39部分:測試 - 測試和指導:組合溫度或溫度和濕度低氣壓試驗

　　IEC 60512-14-5:2006 電子設(shè)備連接器 - 測試和測量 - 第14-5部分:密封測試 - 測試14e:在低氣壓下浸沒

　　IEC 60749-2 Corrigendum 1-2003 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第2部分:低氣壓

　　IEC 60749-2:2002 半導體器件 - 機械和氣候測試方法 - 第2部分:低氣壓

　　IEC 60749-2-2002 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第2部分:低氣壓

　　IEC 60512-11-2:2002 電子設(shè)備連接器 - 測試和測量 - 第11-2部分:氣候測試 - 測試11b:組合/順序冷 低氣壓和潮濕熱

　　IEC 60512-11-11:2002 電子設(shè)備連接器 - 測試和測量 - 第11-11部分:氣候測試 - 測試11k:低氣壓

　　IEC 60512-11-11-2002 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第11-11部分:氣候試驗.試驗11k:低氣壓

　　IEC 60512-11-2-2002 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第11-2部分:氣候試驗.試驗11b:組合的/順序的低溫、低氣壓和濕熱

　　IEC 61300-2-29:1995 光纖互連設(shè)備和被動元件 - 基本測試和測量程序 - 第2-29部分:測試:低氣壓

　　IEC 61300-2-29-1995 纖維光學互連器件和無源元件 基本試驗和測量程序 第2-29部分:試驗 低氣壓

　　IEC 60068-2-41:1976/AMD1:1983 修改件1.基本環(huán)境試驗程序.第2-41部分:試驗.試驗Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗

　　IEC 60068-2-41-1976/AMD1-1983 修改件1.基本環(huán)境試驗程序.第2-41部分:試驗.試驗Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗

　　IEC 60068-2-40:1976/AMD1:1983 修改件1.基本環(huán)境試驗程序.第2-40部分:試驗.試驗Z/AM:冷/低氣壓組合試驗

　　IEC 60068-2-40-1976/AMD1-1983 修改件1.基本環(huán)境試驗程序.第2-40部分:試驗.試驗Z/AM:冷/低氣壓組合試驗

　　IEC 60068-2-13:1983 基本環(huán)境測試程序 - 第2-13部分:測試 - 測試M:低氣壓

　　IEC 60068-2-41 AMD 1-1983 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2-41部分:試驗 試驗Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗 修改1

　　IEC 60068-2-40 AMD 1-1983 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2-40部分:試驗 試驗Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗 修改1

　　IEC 60068-2-13-1983 環(huán)境試驗 第2-13部分:試驗 試驗M:低氣壓

　　IEC 60068-2-39:1976 基本環(huán)境測試程序 - 第2-39部分:測試 - 測試Z/AMD:組合順序冷 低氣壓和潮濕熱測試

　　IEC 60068-2-41:1976 基本環(huán)境測試程序 - 第2-41部分:測試 - 測試Z/BM:組合干熱/低氣壓測試

　　IEC 60068-3-2-1976 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第3部分:背景資料 第2節(jié):溫度/低氣壓組合試驗

　　IEC 60068-2-41-1976 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2-41部分:試驗 試驗Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗

　　IEC 60068-2-40-1976 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2-40部分:試驗 試驗Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗

　　IEC 60068-2-39-1976 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2-39部分:試驗 試驗Z/AMD:低溫、低氣壓和濕熱組合順序試驗

　　中國團體標準，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　T/SZUAVIA 009.3-2019 多旋翼無人機系統(tǒng)實驗室環(huán)境試驗方法 第 3 部分：低氣壓試驗

　　德國標準化學會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　DIN EN 60068-2-39-2016 環(huán)境試驗.試驗.第2-39部分:試驗和指南: 通過低氣壓試驗獲得的結(jié)合溫度或者溫度和濕度(IEC 60068-2-39-2015).德文版本EN 60068-2-39-2016

　　DIN EN 60512-14-5-2006 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第14-5部分:密封試驗.試驗14e:低氣壓下浸漬(IEC 60512-14-5:2006)

　　DIN EN 2591-6314-2003 航空航天系列.光電連接件.試驗方法.第6314部分:光學元件.低氣壓浸漬試驗

　　DIN EN 60749-2-2003 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第2部分:低氣壓

　　DIN EN 60512-11-2-2003 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第11-2部分:氣候試驗.試驗11b:組合的/按順序的低溫、低氣壓和濕熱 (IEC 60512-11-2:2002); 德文版本 EN 60512-11-2:2002

　　DIN EN 60512-11-11-2003 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第11-11部分:氣候試驗.試驗11k:低氣壓 (IEC 60512-11-11:2002); 德文版本 EN 60512-11-11:2002

　　DIN EN 60068-2-41-2000 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗

　　DIN EN 60068-2-40-2000 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗

　　DIN EN 60068-3-2-2000 環(huán)境試驗.第3部分:背景資料.第2節(jié):溫度/低氣壓組合試驗

　　DIN EN 60068-2-39-2000 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Z/AMD:低溫、低氣壓和濕熱組合順序試驗

　　DIN EN 60068-2-13-2000 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗M:低氣壓

　　DIN EN 61300-2-29-1998 光纖互聯(lián)裝置和無源部件.基本試驗和測量程序.第2-29部分:試驗:低氣壓 (IEC 61300-2-29:1995); 德文版本 EN 61300-2-29:1997

　　DIN EN 2591-311-1997 航空航天系列.光電連接件.試驗方法.第311部分:低氣壓

　　日本工業(yè)標準調(diào)查會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　JIS C5402-14-5-2016 電子設(shè)備連接器. 試驗和測量. 第14-5部分: 密封試驗. 試驗14e: 低氣壓下浸漬

　　JIS C5402-11-2-2005 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第11-2部分:氣候試驗.試驗11b:組合的/順序的低溫、低氣壓和濕熱

　　JIS C5402-11-11-2005 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第11-11部分:氣候試驗.試驗11k:低氣壓

　　JIS C60068-3-2-2004 基本環(huán)境試驗過程.第3部分:背景資料.第2節(jié):溫度和低氣壓組合試驗

　　JIS C60068-2-39-2004 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Z/AMD:低溫、低氣壓和濕熱組合順序試驗

　　JIS C60068-2-41-1995 環(huán)境試驗.第2部分:試驗、試驗Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗

　　JIS C60068-2-40-1995 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗

　　JIS C0030-1995 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗

　　JIS C0031-1995 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Z/BM:干熱/低氣壓組合試驗

　　JIS C60068-2-13-1989 基本環(huán)境試驗過程.第2部分:試驗.試驗M:低氣壓

　　JIS C0029-1989 基本環(huán)境試驗程序.第2部分:試驗.試驗M:低氣壓試驗

　　JIS C5029-1975 電子元器件低氣壓試驗方法

　　英國標準學會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　BS EN 60068-2-39-2016 環(huán)境試驗. 試驗. 試驗和指南: 通過低氣壓試驗獲得的結(jié)合溫度或者溫度和濕度

　　BS ISO 11513-2011 氣缸.重復充裝焊接鋼瓶包括低氣壓充氣包裝材料(不包括乙炔).設(shè)計,建設(shè),試驗,使用和定期檢查

　　BS ISO 11513-2011 氣缸.重復充裝焊接鋼瓶包括低氣壓充氣包裝材料(不包括乙炔).設(shè)計,建設(shè),試驗,使用和定期檢查

　　BS EN 60512-14-5-2006 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.密封試驗.試驗14e.低氣壓下浸漬

　　BS EN 60749-2-2002 半導體裝置.機械和氣候試驗方法.低氣壓

　　BS EN 60512-11-11-2002 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.氣候試驗.試驗11k.低氣壓

　　BS EN 60512-11-2-2002 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.氣候試驗.試驗11b.組合的/順序的低溫、低氣壓和濕熱

　　BS EN 2591-6314-2001 電氣和光學連接元件.試驗方法.光學元件.低氣壓條件下的浸泡試驗

　　BS EN 60068-2-41-2000 環(huán)境試驗.試驗方法.試驗Z/BM.干熱/低氣壓結(jié)合試驗

　　BS EN 60068-2-40-2000 環(huán)境試驗.試驗方法.試驗Z/AM.冷/低氣壓結(jié)合試驗

　　BS EN 60068-2-13-1999 環(huán)境試驗.試驗方法.試驗.試驗M:低氣壓

　　BS EN 60068-3-2-1999 環(huán)境試驗.指南.組合溫度/低氣壓試驗

　　BS EN 60068-2-39-1999 環(huán)境試驗.試驗方法..試驗Z/AMD.低溫、低氣壓和濕熱綜合連續(xù)試驗

　　BS EN 2591-311-1998 光電連接元件.試驗方法.低氣壓

　　BS EN 2591-314-1998 光電連接元件.試驗方法.低氣壓下浸漬

　　BS EN 61300-2-29-1997 光纖互聯(lián)裝置和無源部件.基本試驗和測量規(guī)程.試驗.低氣壓試驗

　　BS ISO 9022-5-1995 光學和光學儀器.環(huán)境試驗方法.混合式低溫和低氣壓

　　韓國標準，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　KS C IEC 60068-2-13-2014 環(huán)境試驗.第2-13部分:試驗.試驗M:低氣壓

　　KS C IEC 60068-2-13-2014 環(huán)境試驗.第2-13部分:試驗.試驗M:低氣壓

　　KS C IEC 60749-2-2004 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第2部分:低氣壓

　　KS C IEC 60749-2-2004 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第2部分:低氣壓

　　KS C IEC 60512-11-11-2004 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第11-11部分:氣候試驗.試驗11k:低氣壓

　　KS C IEC 60068-3-2-2003 基本環(huán)境試驗程序.第3部分:基本材料.第2節(jié):溫度/低氣壓綜合試驗

　　KS C IEC 60512-11-2-2002 電子設(shè)備連接器.試驗和測量.第11-2部分:氣候試驗.試驗11b:組合的/順序的低溫、低氣壓和濕熱

　　國際標準化組織，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　ISO 17357-2-2014 船舶和海洋技術(shù). 浮動氣動橡膠護舷. 第2部分: 低氣壓

　　ISO 9022-5:1994 光學和光學儀器.環(huán)境試驗方法.第5部分:組合低溫低氣壓

　　美國國家消防協(xié)會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　NFPA 99B-2010 低氣壓設(shè)備標準.生效日期:2009-06-15

　　美國國家標準學會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　ANSI/NFPA 99B-2010 低氣壓設(shè)施標準

　　ANSI/EIA/TIA 455-190-1992 光纖元件低氣壓(高海拔)試驗

　　國家軍用標準-國防科工委，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　GJB 5895.30-2006 反坦克導彈試驗方法 第30部分:低氣壓(高度)試驗

　　GJB 5491.32-2005 末制導炮彈試驗方法 第32部分:低氣壓(高度)試驗

　　GJB 5389.38-2005 炮射導彈試驗方法 第38部分:低氣壓(高度)試驗

　　美國國防后勤局，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　DLA MS28050 REV B-2005 低氣壓內(nèi)螺紋檢查閥門

　　DLA QPL-5593-27-2005 低氣壓飛機軟管

　　DLA MS27152 REV B NOTICE 3-2005 60 PSI,SPST防水低氣壓壓力預警開關(guān)

　　DLA QPL-38726-14-2005 低氣壓可重用柔軟管適配器組裝

　　DLA MIL-DTL-38726 A-2002 低氣壓軟管的可重新使用的接頭組件

　　DLA AN6270 REV 8-2002 低氣壓可拆式旋轉(zhuǎn)裝置軟管組裝

　　DLA MS27404 REV A-2002 低氣壓膠管可重復使用直線轉(zhuǎn)接器

　　DLA MS28882 REV F NOTICE 1-1998 密封直螺紋連接墊片 低氣壓燃料檢查閥門

　　DLA MS28884 REV E NOTICE 1-1998 燃料檢查閥門低氣壓擴口管連接

　　DLA MS27152 REV B VALID NOTICE 1-1991 60 PSI,SPST防水低氣壓壓力預警開關(guān)

　　DLA MS28882 REV F-1977 密封直螺紋連接墊片 低氣壓燃料檢查閥門

　　DLA MS28884 REV E-1977 燃料檢查閥門低氣壓擴口管連接

　　DLA MS27152 REV B-1968 60 PSI,SPST防水低氣壓壓力預警開關(guān)

　　(美國)軍事條例和規(guī)范，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　ARMY A-A-52405 A VALID NOTICE 1-2004 低氣壓軟管丁字鐵

　　ARMY A-A-52405 A-1995 低氣壓軟管丁字鐵

　　ARMY A-A-52403-1993 (低氣壓)軟管報廢板材

　　ARMY MIL-S-52506 D-1992 自動潤滑的低氣壓型機械軸密封件:一般用途離心式水泵

　　ARMY A-A-1724-1981 低氣壓型輪胎氣壓的標準規(guī)格

　　美國采暖、制冷與空調(diào)工程師協(xié)會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　ASHRAE 4712-2004 低氣壓家用熱水器性能分析

　　澳大利亞標準協(xié)會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　AS 60068.2.40-2003 環(huán)境測試.測試.測試 Z/AM：低溫和低氣壓綜合試驗

　　AS 60068.2.39-2003 環(huán)境試驗.試驗.Z/AMD試驗：組合序貫式冷、低氣壓試驗和濕熱試驗

　　AS 60068.2.41-2003 環(huán)境試驗.試驗.Z/BM試驗：組合干熱/低氣壓試驗

　　(美國)空軍，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　AIR FORCE QPL-25531-20-2002 快速斷開氣動啟動器,外部低氣壓耦合一半

　　歐洲電工標準化委員會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　EN 60749-2-2002 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第2部分:低氣壓 IEC 60749-2-2002;部分替代 EN 60749:1999+A1-2000+A2-2001

　　EN 60512-11-11-2002 電子設(shè)備用連接器.試驗和測量.第11-11部分:氣候試驗.試驗11k:低氣壓 IEC 60512-11-11:2002

　　EN 60512-11-2-2002 電子設(shè)備用連接器.試驗和測量.第11-2部分:氣候試驗.試驗11b:組合的/順序的低溫,低氣壓和濕熱 IEC 60512-11-2:2002

　　EN 60068-3-2-1999 環(huán)境試驗.第3部分:背景資料.第2節(jié):溫度/低氣壓綜合試驗[替代:CENELEC HD 323.3.2 S1]

　　EN 60068-2-39-1999 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Z/修改件:混合連續(xù)冷卻,低氣壓和濕熱試驗[替代:CENELEC HD 323.2.39 S1]

　　EN 60068-2-13-1999 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗M:低氣壓

　　EN 60068-2-40-1999 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗.替代HD 323.2.40 S1-1988;IEC 60068-2-40-1976 + A1-1983

　　EN 60068-2-41-1999 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Z/BM:干熱/低氣壓綜合試驗.替代HD 323.2.41 S1-1988;IEC 60068-2-41-1976+A1-1983

　　EN 61300-2-29-1997 光纖互連器件和無源器件.基本試驗和測量程序.第2-29部分:試驗.低氣壓 IEC 61300-2-29-1995

　　HD 219 S3-1990 低氣壓鈉燈

　　HD 323.2.40 S1-1988 基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:試驗.試驗Z/AM:低溫/低氣壓組合試驗

　　HD 323.2.41 S1-1988 環(huán)境試驗基本規(guī)程:第2部分:試驗.試驗Z/BM:干熱/低氣壓混合試驗

　　HD 323.2.13-1987 基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:試驗.試驗M:低氣壓

　　美國空調(diào)與制冷學會(US-ARI改名為US-AHRI)，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　ARI 580-2001 低氣壓離心液體冷卻不可壓縮的氣體清洗設(shè)備

　　歐洲標準化委員會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　EN 2591-6314-2001 航空航天系列.光電連接元件的試驗方法.第6314部分:光學元件.低氣壓的水浸試驗

　　EN 2591-311-1997 航空航天系列.光電連接元件的試驗方法.第311部分:低氣壓

　　HD 323.2.39 S1-1988 環(huán)境試驗基本規(guī)程:第2部分:試驗.試驗Z/AMD:冷凍.低氣壓和濕熱循序進行混合試驗

　　HD 323.3.2 S1-1988 環(huán)境試驗基本規(guī)程:第3部分:背景信息.第2節(jié):溫度/低氣壓混合試驗

　　HD 323.2.13 S1-1987 環(huán)境試驗基本規(guī)程:第2部分:試驗.試驗M:低氣壓

　　行業(yè)標準-航空，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　HB 5830.14-1996 機載設(shè)備環(huán)境條件及試驗方法.低氣壓(高度)

　　HB 6783.2-1993 軍用機載設(shè)備氣候環(huán)境試驗箱(室)檢定方法.低氣壓(高度)試驗箱(室)

　　(美國)海軍，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　NAVY MIL-R-9300 B NOTICE 2-1996 低氣壓層壓聚酯纖維樹脂

　　NAVY MIL-P-25395 B NOTICE 1-1996 不飽和聚酯樹脂玻璃纖維基地低氣壓層壓耐熱塑膠物料

　　NAVY MIL-R-7575 C NOTICE 2-1996 低氣壓層壓聚酯纖維樹脂

　　NAVY MIL-R-7575 C VALID NOTICE 1-1991 低氣壓層壓聚酯纖維樹脂

　　NAVY MIL-R-9300 B VALID NOTICE 1-1991 低氣壓層壓聚酯纖維樹脂

　　NAVY L-P-383 VALID NOTICE 1-1991 低氣壓疊層玻璃纖維基礎(chǔ)塑膠材料不飽和聚酯樹脂

　　NAVY MIL-R-21607 E-1990 阻燃低氣壓膠膜聚酯纖維樹脂

　　NAVY MIL-R-24719-1989 低氣壓層壓醋酸乙烯酯樹脂

　　NAVY MIL-V-24384 B-1988 低氣壓空氣或氮氣系統(tǒng)壓力調(diào)節(jié)閥門

　　NAVY MIL-P-25395 B-1986 不飽和聚酯樹脂玻璃纖維基地低氣壓層壓耐熱塑膠物料

　　NAVY MIL-R-7575 C (2)-1977 低氣壓層壓聚酯纖維樹脂

　　NAVY L-P-383 (1)-1973 低氣壓疊層玻璃纖維基礎(chǔ)不飽和聚酯樹脂塑膠材料

　　NAVY MIL-R-9300 B-1968 低氣壓層壓聚酯纖維樹脂

　　NAVY L-P-383-1967 低氣壓疊層玻璃纖維基礎(chǔ)不飽和聚酯樹脂塑膠材料

　　NAVY MIL-R-7575 C-1966 低氣壓層壓聚酯纖維樹脂

　　歐洲航空航天和國防工業(yè)標準化協(xié)會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　ASD-STAN PREN 2591-FC14-1993 航空航天系列.電氣和光學連接部件.試驗方法.第FC14部分:光學元件.低氣壓條件下的浸漬;第P1版

　　ASD-STAN PREN 2591-C11-1992 航空航天系列.電氣和光學連接部件.試驗方法.第C11部分:低氣壓;第P1版

　　ASD-STAN PREN 2591-C14-1992 航空航天系列.電氣和光學連接部件.試驗方法.第C14部分:在低氣壓條件下的浸漬;第P1版

　　行業(yè)標準-地質(zhì)，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　DZ 0039.10-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境.試驗條件及方法.低氣壓試驗

　　DZ 28.9-1984 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境.試驗條件及方法.低氣壓試驗

　　歐洲航空工業(yè)協(xié)會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　AECMA PREN 2591-C14-1992 航空航天系列.光電連接元件 試驗方法 C14部分:低氣壓下的浸入

　　行業(yè)標準-電子，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　SJ/T 10212-1991 Y60600-G高低溫低氣壓試驗設(shè)備

　　SJ 2326-1983 高低溫低氣壓試驗設(shè)備通用技術(shù)條件

　　SJ/Z 9001.8-1987 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分：各種試驗 試驗Z/AM：寒冷/低氣壓綜合試驗

　　SJ/Z 9001.9-1987 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分：各種試驗 試驗Z/BM：干熱/低氣壓綜合試驗

　　SJ/Z 9001.45-1987 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第3部分：背景材料 第2節(jié)：溫度/低氣壓綜合試驗

　　SJ/Z 9001.11-1987 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分：各種試驗 試驗Z/AMD：寒冷(低溫)/低氣壓/濕熱綜合順序

　　SJ/Z 9001.7-1987 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分：各種試驗 試驗M：低氣壓

　　臺灣地方標準，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　CNS 12867-1991 環(huán)境試驗法(電氣、電子)–高溫/低氣壓復合試驗法

　　CNS 12866-1991 環(huán)境試驗法(電氣、電子)–低溫/低氣壓復合試驗法

　　CNS 11236-1991 環(huán)境試驗法(電氣、電子)–低氣壓試驗法

　　行業(yè)標準-航天，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　QJ 1238.18-1990 導彈運載火箭上電纜試驗方法 低氣壓試驗

　　QJ 1177.18-1987 地空、艦空導彈武器系統(tǒng)環(huán)境試驗方法.溫度.濕度.振動.低氣壓試驗

　　QJ 1177.2-1987 地空、艦空導彈武器系統(tǒng)環(huán)境試驗方法.低氣壓試驗

　　QJ 1177.17-1987 地空、艦空導彈武器系統(tǒng)環(huán)境試驗方法.溫度.低氣壓試驗

　　QJ 1323.5-1987 電磁繼電器試驗方法 低氣壓試驗

　　丹麥標準化協(xié)會，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　DS/IEC 68-2-41-1985 基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分：Z/BM 試驗：干熱/低氣壓組合試驗(第1次修訂(1983))

　　DS/IEC 68-2-13-1985 基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:試驗.第13節(jié):試驗M:低氣壓

　　行業(yè)標準-教育，關(guān)于大型高空低氣壓的標準

　　JY 186-1985 低氣壓放電管組技術(shù)條件

　　本文由大型高空低氣壓廠家國測航天收集整理自網(wǎng)絡，僅供學習和參考!